• Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size

ขอเชิญเข้าร่วมการสัมมนาเรื่อง Automotive Reliability Testing and Development ฟรี

E-mail Print PDF

ที่   สยย.   054  /2553

      4  กุมภาพันธ์  2553


เรื่อง     ขอเชิญเข้าร่วมการสัมมนาเรื่อง Automotive Reliability Testing and Development

           ด้วย สถาบันยานยนต์  กำหนดจัดการสัมมนาเรื่อง “Automotive Reliability Testing and Development”  ในวันพุธที่ 10 มีนาคม 2553    ระหว่างเวลา 08.30-17.00 น.   ณ ห้องฟอร์จูน  ชั้น 3  โรงแรม แกรนด์ เมอร์เคียว ฟอร์จูน ถนนรัชดาภิเษก กรุงเทพฯ  โดยมีวัตถุประสงค์เพื่อ เผยแพร่ความรู้เรื่องของ Reliability สำหรับการทดสอบและพัฒนายานยนต์และชิ้นส่วน  ซึ่งสถาบันฯได้เชิญวิทยากรจากบริษัท เอ็ม ที เอส ซิทเต็มส์ คอร์ปอเรชั่น (MTS Systems Corporation) ซึ่งบริษัทชั้นนำของประเทศสหรัฐอเมริกาในการผลิตระบบทดสอบต่างๆ และเซ็นเซอร์ตรวจวัดตำแหน่งระดับอุตสาหกรรม คือ Mr. Steven Haeg และ Mr.John Holt    มาบรรยายถึงขั้นตอนการพัฒนายานยนต์และชิ้นส่วนจาก Concept จนถึง Final Product และเครื่องมือ อุปกรณ์ที่จำเป็นต้องใช้ การประเมินความทนทาน (Durability assessment) รวมถึงตัวอย่างกรณีศึกษาของการทดสอบและวิเคราะห์และเทคนิคต่างๆที่นำมาใช้เพื่อการพัฒนาผลิตภัณฑ์

           ในการนี้  สถาบันยานยนต์  จึงขอเรียนเชิญท่านหรือผู้แทนเข้าร่วมการสัมมนา ในวันและเวลาดังกล่าว  โดยไม่เสียค่าใช้จ่ายลงทะเบียนการสัมมนา    พร้อมกันนี้ สถาบันฯ ได้แนบกำหนดการและแบบตอบรับมายังท่าน (เอกสารสิ่งที่ส่งมาด้วย 1,2 และ 3)  โปรดแจ้งตอบรับการเข้าร่วมงานอย่างช้าภายในวันที่ 5 มีนาคม 2553   ทั้งนี้  เพื่อจะได้เตรียมการประสานงานและอำนวยความสะดวกในเรื่องสถานที่ และเอกสารสำหรับท่านเป็นการต่อไป
จึงเรียนมาเพื่อโปรดพิจารณาให้เกียรติเข้าร่วมการสัมมนาในวันและเวลาดังกล่าวสถาบันยานยนต์ขอขอบคุณในความร่วมมือของท่านมา ณ โอกาสนี้


 ขอแสดงความนับถือ
    
 (นายวัลลภ  เตียศิริ) 
 ผู้อำนวยการสถาบันยานยนต์ 

แผนกพัฒนาบุคลากร / สุวรรณ, ศุกลรัตน์,ธานินทร์
โทร. 0-2712-2414 ต่อ 6601-6605   โทรสาร  0-2712-2415  

Last Updated on Tuesday, 23 February 2010 14:26